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激光扫描分析仪

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激光扫描分析仪

腾景科技GouMax激光扫描分析仪（LSA 系列）是聚焦光学器件专项性能深度测试的核心设备，依托定制化精密光电集成技术与 “动态双参考”（内置动态波长计 + 实时功率监测）设计，专门解决光通信、科研实验、工业检测场景中，光学元件（如波分复用器件、偏振组件、光纤链路）的插入损耗、偏振相关损耗（PDL）等关键特性的精准评估问题，区别于通用光谱采集或功率测量设备，更侧重 “器件性能量化验证” 与 “测试流程自动化” 的深度结合。

该系列具备三大差异化适配优势：一是波段与通道精准匹配测试需求，覆盖光通信全波段或 O-band、CL-band 等单波段，通道配置从单通道到 8 通道灵活选择，既能满足单个精密器件的高精度测试，也能支持多通道器件批量并行分析，大幅提升测试效率；二是高速扫描下的高精度保障，通过动态波长与功率双参考实时校准，在激光高速扫描过程中有效抵消环境干扰，维持稳定的波长准确性与功率重复性，避免测试结果偏差；三是多系统协同兼容性，可无缝衔接腾景科技可调谐激光源或客户现有激光设备，支持内 / 外部光电探测器（PD）按需选配，兼容 FC/UPC、FC/APC 等常见光学接口，无需大幅改造现有测试架构即可快速集成。
功能层面，LSA 系列实现 “扫描 - 分析 - 输出” 自动化闭环：支持快速光谱扫描与关键参数（插入损耗光谱、PDL 值）自动解析，无需人工干预即可完成测试数据处理，显著缩短器件性能评估周期；同时提供动态链接库（DLL）与基础控制程序，用户可基于此开发定制化测试软件，适配不同场景下的特殊测试逻辑。设备采用紧凑结构设计，适配 15~35℃常规工作环境，既能满足实验室固定测试需求，也可灵活部署于工业现场检测场景。
该系列广泛应用于光通信器件量产检测（如多通道 WDM 组件 PDL 批量测试、光纤链路插入损耗验证）、科研领域光学元件特性研究（如新型偏振器件性能解析）、工业精密光学组件出厂质检等场景。此外，可根据客户的测试波段范围、通道数量需求、探测器类型偏好及接口规格，提供定制化组合方案，并配套专属技术支持，助力用户构建高效、精准的光学器件测试体系，提升性能评估的可靠性与效率。


技术特点和优势：

·多功能多通道功率计模组

·无源组件光谱测量的高速数据采集和分析

·内置波长和功率参考，确保激光高速扫描时波长和功率谱的准确性

·可测量光功率的动态范围：＞60dB

·超高PDL测试速度

·相较于Y同行的产品，高迈激光扫描分析仪信号峰更清晰、噪声更低

·可同时测量多个通道

·光谱数据分析+动态链接库支持

·产品可定制

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如果您需要更多的信息，请咨询我们的销售部门。

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